Měření veličin jiných než délka
Měření fyzikálních veličin jiných než délka je nutné stále spíše chápat jako výzkumný směr,
než jako službu, u které je možné rutinním způsobem naměřit data a vytvořit kalibrační list se známou nejistotou.
I když na našem pracovišti disponujeme jak praktickými pomůckami pro kalibraci různých speciálních
senzorů, tak numerickými nástroji pro analýzu měřených dat a určitými zkušenostmi s takovými měřeními,
měření fyzikálních veličin nabízíme spíše formou společného výzkumu se zákazníkem.
Pro měření můžeme využít následující zařízení (v závorce jsou uvedeny zkratky jednotlivých metod, které je na daném
zařízení možno použít, pro jejich vysvětlení viz popis technik):
- mikroskop Accurex II.L (AFM, MFM, EFM)
- mikroskop Explorer (AFM, STM, MFM, EFM, SThM)
- mikroskop Aurora (AFM, SNOM)
- speciální mikroskop s rozsahem v řádu centimetrů (AFM, SThM)
- mikroskop Dimension Icon (AFM, STM, MFM, EFM, SThM, PeakForceQNM, PeakForceTuna, PFM, nanolitografie)
|
(c) CMI 2012
|
|
Novinky
Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole v Lednici.
Připravujeme nabídku doktorského studia kombinovaného s prací na projektu MSCA SPM4.0, detaily budou zveřejněny v nejbližších dnech.
Kontakt
Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
petr.klapetek(at)cmi.gov.cz
|