Měření veličin jiných než délka

Měření fyzikálních veličin jiných než délka je nutné stále spíše chápat jako výzkumný směr, než jako službu, u které je možné rutinním způsobem naměřit data a vytvořit kalibrační list se známou nejistotou. I když na našem pracovišti disponujeme jak praktickými pomůckami pro kalibraci různých speciálních senzorů, tak numerickými nástroji pro analýzu měřených dat a určitými zkušenostmi s takovými měřeními, měření fyzikálních veličin nabízíme spíše formou společného výzkumu se zákazníkem.

Pro měření můžeme využít následující zařízení (v závorce jsou uvedeny zkratky jednotlivých metod, které je na daném zařízení možno použít, pro jejich vysvětlení viz popis technik):

  • mikroskop Accurex II.L (AFM, MFM, EFM)
  • mikroskop Explorer (AFM, STM, MFM, EFM, SThM)
  • mikroskop Aurora (AFM, SNOM)
  • speciální mikroskop s rozsahem v řádu centimetrů (AFM, SThM)
  • mikroskop Dimension Icon (AFM, STM, MFM, EFM, SThM, PeakForceQNM, PeakForceTuna, PFM, nanolitografie)


(c) CMI 2012

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz