Seminář o metodách blízkého pole 2017

Akce již proběhla - děkujeme Vám za účast

Zde je ke stažení sborník abstraktů.

Program

Registration: Wed, 13:00 – 14:00
Opening: Wed, 14:00 – 14:10

Wed 14:10 – 14:50 Andrew Yacoot Aspects of metrological atomic force microscopy
Wed 14:50 – 15:10 Marek Havlíček Towards magnetic force microscopy traceability
Wed 15:10 – 15:30 Jan Neuman Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM) with SPM LiteScope, NenoVision
Wed 15:30 – 15:50 Dušan Novotný Měřicí technika Morava s.r.o. company presentation
Wed 15:50 – 16:10 Coffee break
Wed 16:10 – 16:50 Bernd Kästner Nano-FTIR spectroscopy at the Metrology Light Source (MLS)
Wed 16:50 – 17:10 Sergiu Amarie nano-FTIR - imaging and spectroscopy at 10nm spatial resolution
Wed 17:10 – 17:30 Alžběta Kokaislová Scanning near-field infrared microscopy for investigation of hydrogenated single-wall carbon nanotubes
Wed 17:30 – 17:50 Marek Černík Multi-Modal Raman-AFM Imaging
Wed 17:50 – 18:10 Martin Schaefer New Tools for SPM in UHV, High Vacuum, Liquid or Ambient Environments
Wed 19:00 – 20:00 Dinner


Thu 9:00 – 9:20 Jan Přibyl Use of AFM for nanomechanical mapping of living cells, biomolecules and biomaterials
Thu 9:20 – 9:40 Lenka Zajíčková Single-cell force spectroscopy measurement of cell adhesion to cyclopropylamine plasma polymer films
Thu 9:40 – 10:00 Jan Vávra Optical Tweezers combined with Atomic Force Microscopy - the next level force tool for bio applications
Thu 10:00 – 10:20 Samuel Lesko PeakForce Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) with Nanoelectrode Probes
Thu 10:20 – 10:40 Coffee break
Thu 10:40 – 11:20 Stefan Müllegger Radio-frequency scanning tunneling microscopy on molecular and atomic resonators
Thu 11:20 – 11:40 Ondřej Krejčí Principles and simulations of high-resolution STM imaging with a flexible tip apex.
Thu 11:40 – 12:00 María Moro-Lagares High-resolution AFM/STM imaging and spectroscopy of Van der Waals interaction of CO on a Ag(111) metal surface
Thu 12:00 – 12:20 Dušan Novotný Měřicí technika Morava s.r.o. company presentation
Thu 12:20 – 14:00 Lunch
Thu 14:00 – 14:20 Pavel Kocán Molecular self-assembly controlled by the electric field of an STM tip
Thu 14:20 – 14:40 Jan Berger Control of multiple electron charge states within a single molecule
Thu 14:40 – 15:00 Aleš Cahlík Resolving molecular products of astro-photochemistry: light-induced hydrogenation of 1,2-bis(2-phenylethynyl)benzene
Thu 15:00 – 15:20 Bruno de la Torre Simultaneous high-resolution AFM/STM/IETS imaging of FePc on Au(111)
Thu 15:20 – 15:40 Martin Ondráček Electrostatic properties of CO functionalized tips
Thu 15:40 – 16:00 Peter Matvija Real-space visualization of the pair correlation function in a 2D molecular gas
Thu 16:00 – 16:20 Coffee break
Thu 16:20 – 17:00 Jonathan Weaver Scanning Thermal Microscope Probes for Accurate Thermometry
Thu 17:00 – 17:20 Jan Martinek Large area SThM/IR system for temperature and thermal conductivity mapping
Thu 17:20 – 17:40 Petr Klapetek Graphics card based computing for an inverse problem solution
Thu 17:40 – 18:00 Łukasz Zarodkiewicz MSA System – A Closer Look At nanotechnology
Thu 18:00 – 18:05 Filip Jakeš RMI company presentation
Thu 18:05 – 18:20 Sergey Lemeshko NT-MDT New developments in scanning probe microscopy and tip enhanced microscopies
Thu 19:00 – 23:00 Social evening


Fri 9:30 – 10:10 Theodor Gotszalk Nanometrology using piezoresitive scanning probe microscopy cantilevers
Fri 10:10 – 10:30 Matěj Hývl Investigation of shunt propagation in radial junction solar cells with c-AFM
Fri 10:30 – 10:50 David Roesel Characterization of wide bandgap semiconductors by scanning probe microscopies
Fri 10:50 – 11:10 Martin Švec Converse piezoelectric effect in structural analogs of helicene
Fri 11:10 – 11:30 Coffee break
Fri 11:30 – 11:50 Daniel Haško Optimisation of process conditions of layers and structures for hybrid organic - inorganic photonics.
Fri 11:50 – 12:10 Anna Charvátová Campbell Correction of nanoindentations data based on AFM surface topography measurements
Fri 12:10 – 12:30 Jiří Šperka Open SPM data sources from space missions
Fri 12:30 – 12:50 Vlastimil Píč Macromodel of AFM / SPM
Fri 12:50 – 13:10 Jan Fait Complex nano-patterning of amorphous silicon thin films by scanning probe
Fri 13:10 End of the workshop, lunch

Témata

  • Nové režimy SPM, pokročilé techniky (mechanické, termální, optické vlastnosti)
  • UHV STM a AFM
  • Aplikace SPM metod
  • Vývoj zařízení a související metrologie
  • Zpracování SPM dat

Předběžný seznam zvaných přednášejících:

  • Bernd Kästner, Physikalisch Technische Bundesanstalt, Německo, "Nano-FTIR spectroscopy at the Metrology Light Source"
  • Andrew Yacoot, National Physical Laboratory, Velká Británie, "Aspects of metrological atomic force microscopy"
  • Stefan Müllegger, Johannes Kepler University Linz, Rakousko, "Radio-frequency scanning tunneling microscopy on molecular and atomic resonators"
  • Theodor Gotszalk, Wroclaw University of Technology, Polsko, "Nanometrology using piezoresitive scanning probe microscopy cantilevers"
  • Jonathan Weaver, University of Glasgow, Velká Británie, "Scanning Thermal Microscope Probes for Accurate Thermometry"

Sponzoři a vystavovatelé

  • MT-M (hlavní sponzor), reprezentující firmu Bruker, SPECS a související firmy
  • NenoVision
  • Nicolet CZ, reprezentující firmu Neaspec
  • RMI, reprezentující NT-MDT a související firmy
  • Schaefer Technologie GmbH, reprezentující firmy AFMWorkshop, Cytosurge, Park Systems a RHK Technology
  • Uni-Export Instruments, reprezentující firmu Witec
  • JPK Instruments
  • MSA System

Ubytování

Pro ubytování doporučujeme přímo Hotel Lednice. Účastníci si zamlouvají a platí ubytování sami. V této souvislosti bychom proto rádi upozornili, že kapacita hotelu je omezená.

V Lednici je nicméně množství dalších možností ubytování, vizte např. stránky Lednice


(c) CMI 2014

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz