Seminář o metodách blízkého pole 2019

Srdečně vás zveme na tradiční Seminář o metodách blízkého pole, který se bude konat ve dnech 27.-29. března 2019 v Hotelu Lednice, v blízkosti zámku Lednice. Seminář je pořádán Oddělením primární nanometrologie a technické délky ČMI.

Smyslem akce je především setkat se s kolegy zabývajícími se problematikou rastrovací sondové mikroskopie a všech jejich variant a podělit se o nejnovější výsledky a řešené problémy.

Program

Seminář bude tvořen zvanými přednáškami (40 min) a ústními sděleními účastníků (20 min). Součástí semináře bude společenský večer organizovaný za finanční podpory vystavovatelů. Předpokládané zahájení semináře je ve středu 27. března odpoledne (13:00) a zakončení v pátek 29. března v poledne.

Registration: Wed, 12:00 – 13:00
Opening: Wed, 13:00 – 13:10

Wed 13:10 – 13:50 Fernando Araujo de Castro Towards 3D nanoscale imaging of complex thin films using scanning probe microscopy
Wed 13:50 – 14:30 Denis Vasyukov Introduction to Scanning Microwave Microscopy
Wed 14:30 – 14:50 Anna Charvátová Campbell Nanoindentor tip analysis by AFM
Wed 14:50 – 15:10 Dušan Novotný Měřicí technika Morava s.r.o. company presentation
Wed 15:10 – 15:30 Coffee break
Wed 15:30 – 15:50 Teodor Gotszalk Array of electromagnetically cantilevers for force-distance spectroscopy metrological investigations
Wed 15:50 – 16:10 Daniel Haško Measurement of the elastic properties of soft samples in fluids
Wed 16:10 – 16:30 Vilma Buršíková Characterisation of plasma-polymer organosilicon composite thin films deposited under dusty plasma conditions
Wed 16:30 – 16:50 Jiří Buršík Local mechanical properties of advanced thermoelectrics
Wed 16:50 – 17:10 Egor Ukraintsev Peak Force AFM study of a chiral helicene-based macrocycles assembly on HOPG
Wed 17:10 – 17:30 David Nečas Tip dilation artefacts & roughness measurement – parametric approach
Wed 17:30 – 17:50 Filip Jakeš RMI company presentation
Wed 18:00 – 19:00 Dinner


Thu 9:00 – 9:40 Volker Neu Probing magnetic textures on the nanoscale
Thu 9:40 – 10:00 Matěj Hývl Contact force in C-AFM
Thu 10:00 – 10:20 Jaroslav Kuliček Microscopic surface potential study for understanding ionic migration in perovskites
Thu 10:20 – 10:40 Dušan Novotný Měřicí technika Morava s.r.o. company presentation
Thu 10:40 – 11:00 Coffee break
Thu 11:00 – 11:40 Yannick De Wilde Near-field investigation of plasmonic materials and devices at infrared wavelengths
Thu 11:40 – 12:00 Petr Klapetek FDTD calculations of infrared SNOM probes
Thu 12:00 – 12:20 Jan Vávra Scattering-Type Scanning Near-field Optical Microscopy and Spectroscopy for Nanoscale Chemical Analysis - company presentation
Thu 12:30 – 14:50 Lunch & group photo
Thu 14:50 – 15:10 Radovan Vraník Mechanical response of helicene molecules on Ag(111) substrate to RF pulses
Thu 15:10 – 15:30 Mihai-George Mureșan AFM measurements of laser-induced damaged sites
Thu 15:30 – 15:50 Bohuslav Rezek Nano-analysis of composition and photovoltaic properties of nanodiamonds with polypyrrole
Thu 15:50 – 16:10 Łukasz Zarodkiewicz MSA System company presentation
Thu 16:10 – 16:30 Coffee break
Thu 16:30 – 16:50 Ivan Ošťádal Cleaning tungsten STM tips for UHV measurements
Thu 16:50 – 17:10 Pavel Kocan Electric field of an STM tip as a tool for probing stability of molecular layers
Thu 17:10 – 17:30 Jiří Doležal Metastability of a copper phthalocyanine molecule on a thin insulating NaCl layer
Thu 17:30 – 17:50 Taras Chutora On-surface synthesis of ethynylene bridged anthracene polymers
Thu 17:50 – 18:10 Benjamin Mallada Atomic-scale study of impact of Boron and Nitrogen dopants in graphene chemical reactivity by STM/AFM/KPFM and DFT calculations.
Thu 18:10 – 18:30 Zdeněk Nováček LiteScope™ AFM-in-SEM: New applications and tools for in-situ sample analysis - company presentation
Thu 19:00 – 23:00 Social evening


Fri 9:20 – 9:30 Lukáš Fojt Characterization of carbon-based electrodes using AFM and Raman spectroscopy techniques
Fri 9:30 – 9:50 Marek Havlíček Polymer spheres calibration for use in particle counters done by AFM
Fri 9:50 – 10:10 Jan Martinek SThM and infrared microscope calibration method
Fri 10:10 – 10:30 Jan Vaniš Characterization of ZnO nanorod heterostructures
Fri 10:30 – 10:50 Marek Černík alpha300Ri Inverted 3D Confocal Raman Microscopy - company presentation
Fri 10:50 – 11:10 Coffee break
Fri 11:10 – 11:30 Dušan Hemzal Noble metal nanoparticles as template for successful characterization of biomolecules
Fri 11:30 – 11:50 Jan Přibyl AFM based spectroscopy for nanomechanical mapping of living cells, biomolecules and biomaterials
Fri 11:50 – 12:10 Tomáš Finsterle Microscopic study change of adhesion after drug exposure on surface coating with diamond and gold nanoparticles
Fri 12:10 – 12:30 Dušan Novotný Měřicí technika Morava s.r.o. company presentation
Fri 12:30 End of the workshop, lunch

Témata

  • Nové režimy SPM, pokročilé techniky (mechanické, termální, magnetické, elektrické a optické vlastnosti)
  • UHV STM a AFM, aplikace SPM v nanotechnologiích
  • Aplikace SPM metod v biologii
  • Vývoj SPM zařízení a související metrologie
  • Zpracování SPM dat

Předběžný seznam zvaných přednášejících:

  • Fernando Araujo de Castro, National Physical Laboratory, Velká Británie
  • Volker Neu, IFW Dresden, Německo
  • Yannick De Wilde, ESPCI, Francie
  • Denis Vasyukov, METAS, Švýcarsko
  • Séverine GOMES, INSA Lyon, Francie

Seznam zvaných přednášejících bude upřesňován průběžně.

Sponzoři a vystavovatelé

  • MT-M (hlavní sponzor), reprezentující firmu Bruker, SPECS, JPK Instruments a související firmy
  • NenoVision
  • Uni-Export Instruments, reprezentující firmu Witec
  • RMI, reprezentující NT-MDT a související firmy
  • Nicolet CZ, reprezentující firmu Neaspec
  • MSA System
  • Schaefer Technologie GmbH

Seznam vystavovatelů bude upřesňován průběžně.

Ubytování

Pro ubytování doporučujeme přímo Hotel Lednice. Účastníci si zamlouvají a platí ubytování sami. V této souvislosti bychom proto rádi upozornili, že kapacita hotelu je omezená.

V Lednici je nicméně množství dalších možností ubytování, vizte např. stránky Lednice

Registrace

Deadline pro registraci byl prodloužen na 4. března 2019.

Účastnický poplatek je 2 000 Kč a zahrnuje vše kromě ubytování.

Registrace probíhá prostřednictvím stránek ČMI na tomto odkazu.

Sborník abstraktů

Ke stažení v PDF na http://nanometrologie.cz/sbornik_2019.pdf


(c) CMI 2014

Novinky

2019-10-02 Byla vydána nová verze FDTD solveru GSvit 1.9.2.

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


AFM snímek polystyrénových (PSL) nanočástic o velikosti 100 nm a 300 nm

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz