Seminář o metodách blízkého pole 2019

Srdečně vás zveme na tradiční Seminář o metodách blízkého pole, který se bude konat ve dnech 27.-29. března 2019 v Hotelu Lednice, v blízkosti zámku Lednice. Seminář je pořádán Oddělením primární nanometrologie a technické délky ČMI.

Smyslem akce je především setkat se s kolegy zabývajícími se problematikou rastrovací sondové mikroskopie a všech jejich variant a podělit se o nejnovější výsledky a řešené problémy.

Program

Seminář bude tvořen zvanými přednáškami (45 min) a ústními sděleními účastníků (20 min). Součástí semináře bude společenský večer organizovaný za finanční podpory vystavovatelů. Předpokládané zahájení semináře je ve středu 27. března odpoledne (13:00) a zakončení v pátek 29. března v poledne.

Témata

  • Nové režimy SPM, pokročilé techniky (mechanické, termální, magnetické, elektrické a optické vlastnosti)
  • UHV STM a AFM, aplikace SPM v nanotechnologiích
  • Aplikace SPM metod v biologii
  • Vývoj SPM zařízení a související metrologie
  • Zpracování SPM dat

Předběžný seznam zvaných přednášejících:

  • Fernando Araujo de Castro, National Physical Laboratory, Velká Británie
  • Volker Neu, IFW Dresden, Německo

Seznam zvaných přednášejících bude upřesňován průběžně.

Sponzoři a vystavovatelé

  • MT-M (hlavní sponzor), reprezentující firmu Bruker, SPECS, JPK Instruments a související firmy

Seznam vystavovatelů bude upřesňován průběžně.

Ubytování

Pro ubytování doporučujeme přímo Hotel Lednice. Účastníci si zamlouvají a platí ubytování sami. V této souvislosti bychom proto rádi upozornili, že kapacita hotelu je omezená.

V Lednici je nicméně množství dalších možností ubytování, vizte např. stránky Lednice

Registrace

Účastnický poplatek je 2 000 Kč a zahrnuje vše kromě ubytování.

Registrace probíhá prostřednictvím stránek ČMI na tomto odkazu.


(c) CMI 2014

Novinky

2019-10-02 Byla vydána nová verze FDTD solveru GSvit 1.9.2.

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


MFM (fáze) na multivrstvě [Co(0.4)/Pt(0.9)]100 na Si substrátu

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz