Služby
Posláním Českého metrologického institutu není jen provádět výzkum v oblasti metrologie, ale především
zprostředkovávat návaznost dalším subjektům, a tím zajišťovat jednotnost a správnost měření v České republice.
Metrologický systém, který na oddělení nanometrologie budujeme, proto není jen samoúčelným cvičením v oblasti fundamentální
metrologie, ale klade si za cíl zprostředkovávat návaznost dalším subjektům, a to pro jakékoliv fyzikální veličiny detekované
s vysokým rozlišením.
Mezi nejjednodušší služby, které můžeme odborné veřejnosti poskytnout, patří kalibrace různých etalonů
využívaných v mikroskopických technikách (SPM, SEM, optická mikroskopie) a měření
morfologie mikro- a nanostruktur obecně, včetně vyhodnocení různých přímých i statistických parametrů a funkcí,
jako jsou například parametry drsnosti.
Vzhledem k tomu, že náš výzkum se neomezuje na délkové veličiny, můžeme nabídnout konzultace a spolupráci
také při měření dalších fyzikálních veličin (elektrických, magnetických, teplotních, optických)
ve vysokém rozlišení a měření mechanických veličin v nano- i mikroměřítku.
|
