Partneři

Problematika nanometrologie je velmi široká a její plné zvládnutí určitě není v silách našeho oddělení. V posledních letech proto v rámci projektů EMRP spolupracujeme s desíti dalšími metrologickými instituty a několika dalšími institucemi mimo metrologickou komunitu při řešení speciálních výzkumných úkolů souvisejících s kvantitativní rastrovací mikroskopií. Mimo to dlouhodobě spolupracujeme s několika domácími a zahraničními institucemi při řešení konkrétních problémů a výzkumných úkolů:

Významným prvkem rozvoje oboru nanometrologie je spolupráce se středoevropským technologickým institutem CEITEC, kde byla nezávisle na ČMI, avšak s jeho podporou, vytvořena výzkumná skupina, jejímž hlavním cílem je aplikovat poznatky z oboru nanometrologie do prostředí akademické instituce zaměřené na špičkový výzkum v oblasti nanotechnologií, speciálních materiálů, mikroelektroniky, fotoniky a mnohých dalších.

Ve spolupráci s Přírodovědeckou fakultou Masarykovy Univerzity vyvíjíme program Gwyddion a věnujeme se srovnávání optických a dotykových metod při charaterizaci drsnosti povrchů.

V rámci mnohých projektů spolupracujeme s Ústavem přístrojové techniky AVČR, zejména se skupinami specializujícími se na vývoj interferometrických metod měření délky. Tato spolupráce byla využita například při konstrukci speciálního metrologického SPM.

Při spolupráci s National Physical Laboratory se zaměřujeme na problematiku nejistot polohovacích systémů pro rastrovací mikroskopy, nejistoty metrologických SPM obecně a kvantitativní zpracování dat v různých SPM metodách.

Spolu s PTB se zaměřujeme na problematiku statistické analýzy povrchů a vztahu mezi různými měřicími metodami pro tvar povrchu a jeho drsnost.

Spolupráce s Fyzikálním ústavem AVČR nám přináší hlubší poznání interakcí v SPM pro měření sil a rozměrů, ale i při studiu dalších fyzikálních veličin.


(c) CMI 2012

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz