Kontakt
Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
S vašimi dotazy vám mohou pomoci následující pracovníci:
| osoba | oblast |
Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.
vedoucí oddělení
e-mail: pklapetek (at) cmi.cz |
kvantitativní SPM měření, modelování metodami MD a FDTD, vývoj softwaru |
Mgr. Anna Charvátová Campbell, Ph.D.
e-mail: acharvatovacampbell (at) cmi.cz |
nano- a mikroindentace, vrypové zkoušky, modelování metodou DFT, analýza nejistot |
Ing. Václav Duchoň
vedoucí sekce technické délky
e-mail: vduchon (at) cmi.cz |
vývoj mechanických mikrosystémů, měření v oboru délka |
doc. Mgr. Jan Martinek, Ph.D.
e-mail: jmartinek (at) cmi.cz |
rastrovací termální mikroskopie, modelování metodou FEM, vývoj elektroniky |
Mgr. Radek Šlesinger, Ph.D.
e-mail: rslesinger (at) cmi.cz |
nano- a mikroindentace, modelování metodami FEM a MPM, vývoj softwaru |
Mgr. Jiří Šperka, Ph.D.
e-mail: jsperka (at) cmi.cz |
měření nanočástic a aerosolů, kalibrace optických čítačů částic |
Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D.
e-mail: mvaltr (at) cmi.cz |
AFM měření, digitální spektroskopická reflektometrie, vývoj elektroniky |
Kromě kmenových pracovníků spolupracujeme také s těmito kolegy z jiných oddělení:
| osoba | oblast |
RNDr. Petr Balling
vedoucí oddělení kvantové metrologie délky
e-mail: pballing (at) cmi.cz |
návaznost etalonů délky, interferometrie |
Mnoho dalších kontaktů naleznete na oficiálních stránkách Českého metrologického institutu.
|
