Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno

S vašimi dotazy vám mohou pomoci následující pracovníci:

osobaoblast
Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.
vedoucí oddělení
e-mail: pklapetek (at) cmi.cz
kvantitativní SPM měření, modelování metodami MD a FDTD, vývoj softwaru
Mgr. Anna Charvátová Campbell, Ph.D.
e-mail: acharvatovacampbell (at) cmi.cz
nano- a mikroindentace, vrypové zkoušky, modelování metodou DFT, analýza nejistot
Ing. Václav Duchoň
vedoucí sekce technické délky
e-mail: vduchon (at) cmi.cz
vývoj mechanických mikrosystémů, měření v oboru délka
doc. Mgr. Jan Martinek, Ph.D.
e-mail: jmartinek (at) cmi.cz
rastrovací termální mikroskopie, modelování metodou FEM, vývoj elektroniky
Mgr. Radek Šlesinger, Ph.D.
e-mail: rslesinger (at) cmi.cz
nano- a mikroindentace, modelování metodami FEM a MPM, vývoj softwaru
Mgr. Jiří Šperka, Ph.D.
e-mail: jsperka (at) cmi.cz
měření nanočástic a aerosolů, kalibrace optických čítačů částic
Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D.
e-mail: mvaltr (at) cmi.cz
AFM měření, digitální spektroskopická reflektometrie, vývoj elektroniky

Kromě kmenových pracovníků spolupracujeme také s těmito kolegy z jiných oddělení:

osobaoblast
RNDr. Petr Balling
vedoucí oddělení kvantové metrologie délky
e-mail: pballing (at) cmi.cz
návaznost etalonů délky, interferometrie

Mnoho dalších kontaktů naleznete na oficiálních stránkách Českého metrologického institutu.


(c) CMI 2020

Novinky

2020-02-28 Byla vydána nová verze FDTD solveru GSvit 1.9.4.

2019-06-11 Byla vydána nová verze FDTD solveru GSvit 1.9.3.

2019-10-02 Byla vydána nová verze FDTD solveru GSvit 1.9.2.

Snímek měsíce


Nanokompozitní SiOx vrstva nadeponovaná v prašném plazmatu

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz