Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno

S vašimi dotazy vám mohou pomoci následující pracovníci:

osobaoblast
Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.
vedoucí oddělení
e-mail: pklapetek (at) cmi.cz
kvantitativní SPM měření, modelování metodami MD a FDTD, vývoj softwaru
Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D.
e-mail: mvaltr (at) cmi.cz
AFM měření, digitální spektroskopická reflektometrie, vývoj elektroniky
Mgr. Anna Charvátová Campbell, Ph.D.
e-mail: acampbellova (at) cmi.cz
nano- a mikroindentace, vrypové zkoušky, modelování metodami DFT a FEM, Monte Carlo analýza nejistot
Mgr. Jan Martinek, Ph.D.
e-mail: jmartinek (at) cmi.cz
nano- a mikroindentace, modelování metodou FEM, rastrovací termální mikroskopie

Kromě kmenových pracovníků spolupracujeme také s těmito kolegy z jiných oddělení:

osobaoblast
Ing. Václav Duchoň
vedoucí oddělení délky
e-mail: vduchon (at) cmi.cz
vývoj mechanických mikrosystémů, měření v oboru délka
RNDr. Petr Balling
vedoucí oddělení kvantové metrologie
e-mail: pballing (at) cmi.cz
návaznost etalonů délky, interferometrie

Mnoho dalších kontaktů naleznete na oficiálních stránkách Českého metrologického institutu.


(c) CMI 2012

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz