Výzkumné směry

Námětů k výzkumu v oboru měření s vysokým rozlišením je mnoho a malá vědecká skupina jako je naše jistě nemůže obsáhnout vše. V našich výzkumných programech se snažíme soustředit na kvantitativní měření metodami rastrovací sondové mikroskopie a příbuznými technikami, přičemž se pokoušíme o co možná největší integraci technik měření s numerickými metodami pro interpretaci měřených dat.

I přesto, že financování výzkumu je do velké míry projektově orientováno, snažíme se aby jednotlivé dílčí výsledky tvořily součásti velké skládačky metodik nanometrologie a tak dohromady vytvářely celek, který by byl využitelný nejen na našem pracovišti, ale i jinde. Mezi hlavní výzkumné směry jdoucí napříč různými grantovými projekty můžeme zahrnout následující oblasti:


(c) CMI 2012

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz