Výzkumné směry

Námětů k výzkumu v oboru měření s vysokým rozlišením je mnoho a malá vědecká skupina jako je naše jistě nemůže obsáhnout vše. V našich výzkumných programech se snažíme soustředit na kvantitativní měření metodami rastrovací sondové mikroskopie a příbuznými technikami, přičemž se pokoušíme o co možná největší integraci technik měření s numerickými metodami pro interpretaci měřených dat.

I přesto, že financování výzkumu je do velké míry projektově orientováno, snažíme se aby jednotlivé dílčí výsledky tvořily součásti velké skládačky metodik nanometrologie a tak dohromady vytvářely celek, který by byl využitelný nejen na našem pracovišti, ale i jinde. Mezi hlavní výzkumné směry jdoucí napříč různými grantovými projekty můžeme zahrnout následující oblasti:

• Vývoj přístrojového vybavení pro speciální měření v oboru nanometrologie.
• Vývoj metod kvantitativní analýzy SPM technikami, zahrnující metody pro měření mechanických, elektrických, termálních, magnetických a optických vlastností.
• Vývoj software pro zpracování a interpretaci SPM dat.
• Poskytování návaznosti a vytváření metod pro návaznost různých měření v nano- a mikroměřítku.

(c) CMI 2012