Metrologická návaznost

Metrologickou návazností rozumíme nepřerušený řetězec kalibrací etalonů nižšího řádu etalony vyššího řádu tak, aby bylo možné každé měření vztáhnout až k etalonům základním, definujícím jednotlivé jednotky. V rámci našeho výzkumu se snažíme o budování metod metrologické návaznosti pro všechny dostupné metody měření. Vzhledem k tomu, že pro velkou většinu veličin je i samotná metodologie měření dosud ve vývoji, není takový úkol snadný. Na druhou stranu je dobré mít už při vývoji nových měřicích metod na paměti, že bude nutné metrologickou návaznost zajišťovat a měřicí metody tomu uzpůsobovat.

Patrně nejjednodušší je zajištění metrologické návaznosti pro metody měření rozměrů využívající specializované metrologické rastrovací mikroskopy [1]. Vzhledem k tomu, že taková zařízení jsou vybavena interferometry, velká část problematiky návaznosti se redukuje na kalibraci laserů, které jsou v těchto interferometrech využity.

Při měřeních rozměrů pomocí jiných zařízení se situace komplikuje a je nutné používat speciální vzorky a metody pro přenos návaznosti. Ještě větší úsilí musíme vyvinout, pokud se zaměříme na další fyzikální veličiny, jako jsou například rozložení tepelné vodivosti nebo mechanické vlastnosti [2]. Vývoj metod návaznosti pro takové techniky chápeme jakou součást kvantitativní mikroskopie, které se při našem výzkumu věnujeme.


[1] J. Lazar, J. Hrabina, M. Šerý, P. Klapetek, O. Číp, Multiaxis interferometric displacement measurement for local probe microscopy, Central European Journal of Physics, 10 (2012) 225-231
[2] A. Campbellová, M. Valtr, J. Zůda, P. Klapetek, Traceable measurements of small forces and local mechanical properties, Meas. Sci. Technol 22 (2011)


(c) CMI 2012

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz