Metrologická návaznost
Metrologickou návazností rozumíme nepřerušený řetězec kalibrací etalonů nižšího řádu etalony vyššího řádu
tak, aby bylo možné každé měření vztáhnout až k etalonům základním, definujícím jednotlivé jednotky.
V rámci našeho výzkumu se snažíme o budování metod metrologické návaznosti pro všechny
dostupné metody měření. Vzhledem k tomu, že pro velkou většinu veličin je i samotná metodologie měření
dosud ve vývoji, není takový úkol snadný. Na druhou stranu je dobré mít už při vývoji nových měřicích metod na paměti,
že bude nutné metrologickou návaznost zajišťovat a měřicí metody tomu uzpůsobovat.
Patrně nejjednodušší je zajištění metrologické návaznosti pro metody měření rozměrů využívající
specializované metrologické rastrovací mikroskopy [1]. Vzhledem k tomu, že taková zařízení jsou vybavena interferometry,
velká část problematiky návaznosti se redukuje na kalibraci laserů, které jsou v těchto interferometrech využity.
Při měřeních rozměrů pomocí jiných zařízení se situace komplikuje a je nutné používat speciální vzorky a metody
pro přenos návaznosti. Ještě větší úsilí musíme vyvinout, pokud se zaměříme na další fyzikální veličiny, jako jsou například
rozložení tepelné vodivosti nebo mechanické vlastnosti [2].
Vývoj metod návaznosti pro takové techniky chápeme jakou součást kvantitativní mikroskopie,
které se při našem výzkumu věnujeme.
[1] J. Lazar, J. Hrabina, M. Šerý, P. Klapetek, O. Číp, Multiaxis interferometric displacement measurement for local probe microscopy,
Central European Journal of Physics, 10 (2012) 225-231
[2] A. Campbellová, M. Valtr, J. Zůda, P. Klapetek, Traceable measurements of small forces and local mechanical properties,
Meas. Sci. Technol 22 (2011)
|
