Metrologická návaznost

Metrologickou návazností rozumíme nepřerušený řetězec kalibrací etalonů nižšího řádu etalony vyššího řádu tak, aby bylo možné každé měření vztáhnout až k etalonům základním, definujícím jednotlivé jednotky. V rámci našeho výzkumu se snažíme o budování metod metrologické návaznosti pro všechny dostupné metody měření. Vzhledem k tomu, že pro velkou většinu veličin je i samotná metodologie měření dosud ve vývoji, není takový úkol snadný. Na druhou stranu je dobré mít už při vývoji nových měřicích metod na paměti, že bude nutné metrologickou návaznost zajišťovat a měřicí metody tomu uzpůsobovat.

Patrně nejjednodušší je zajištění metrologické návaznosti pro metody měření rozměrů využívající specializované metrologické rastrovací mikroskopy [1]. Vzhledem k tomu, že taková zařízení jsou vybavena interferometry, velká část problematiky návaznosti se redukuje na kalibraci laserů, které jsou v těchto interferometrech využity.

Při měřeních rozměrů pomocí jiných zařízení se situace komplikuje a je nutné používat speciální vzorky a metody pro přenos návaznosti. Ještě větší úsilí musíme vyvinout, pokud se zaměříme na další fyzikální veličiny, jako jsou například rozložení tepelné vodivosti nebo mechanické vlastnosti [2]. Vývoj metod návaznosti pro takové techniky chápeme jakou součást kvantitativní mikroskopie, které se při našem výzkumu věnujeme.


[1] J. Lazar, J. Hrabina, M. Šerý, P. Klapetek, O. Číp, Multiaxis interferometric displacement measurement for local probe microscopy, Central European Journal of Physics, 10 (2012) 225-231
[2] A. Campbellová, M. Valtr, J. Zůda, P. Klapetek, Traceable measurements of small forces and local mechanical properties, Meas. Sci. Technol 22 (2011)


(c) CMI 2012

Novinky

4. 1. 2024 Byla vydána nová verze sw pro analýzu SPM dat Gwyddion 2.65.

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz