Galerie SPM měření

Nanometrologie.cz
  • 100nm nanospheres on silicon
  • AFM tips imaged on ZnSe film
  • Carbon nanotube (sample courtesy L. Zajickova)
  • Escherechia coli (sample courtesy L. Fojt)
  • MFM on hard disc
  • Microchip surface
  • Microchip surface thermal data
  • Nanoindentor imprint on copper
  • Nanoscratching on polycarbonate
  • Natural diamond (sample courtesy J. Kotkova)
  • Part of a CCD chip
  • PLC film delamination
  • Silicon single steps (sample courtesy L. Koenders)
  • SNOM reflection on Al islands
  • Thermal map on microchip sensor
Powered by, UberGallery

(c) CMI 2012

Novinky

Sborník abstraktů ze Semináře o metodách blízkého pole 2025 v Lednici je ke stažení zde.

Ve spolupráci s VUT v Brně nabízíme doktorské studium kombinované s prací na projektu MSCA project SPM4.0

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
petr.klapetek(at)cmi.gov.cz